高低溫沖擊試驗箱具有很強的適應性，設(shè)有多種機型來適應不同的試驗要求，可劃分為：空氣間溫度沖擊試驗箱、兩箱到三箱以及兩種到三種溫度的沖擊箱（高溫、常溫和低溫）。箱體的大小從27立升到1000立升不等。PLC控制系統(tǒng)和顯示器的操作界面可事先設(shè)置好循環(huán)試驗的參數(shù)，使其自動完成試驗全過程。
　　
　　高低溫沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，GP/3TS系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
　　
　　本設(shè)備滿足：
　　
　　ØGB/T2423.22-87Na
　　
　　ØGJB_150.1-86_軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法_總則
　　
　　ØGBT23682-2009制冷系統(tǒng)和熱泵軟管件、隔震管和膨脹接頭要求、設(shè)計與安裝
　　
　　ØGB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
　　
　　ØGB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
　　
　　ØGB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗：高溫試驗方法
　　
　　ØGJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
　　
　　ØGJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
　　
　　ØGJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法》
　　
　　ØGJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗》
　　
　　ØGJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗》
　　
　　ØGJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》
　　
　　ØGB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
　　
　　ØGB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
　　
　　ØGB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
　　
　　ØGB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》